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LED暫能熱阻量測系統
說明
LED暫能熱阻量測系統是基于*的JEDEC Static Method測試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的的輸入功率，使得器件產生溫度變化。在變化過程中，系統測試出晶片的瞬態溫度回應曲線，僅在幾分之內即可分析得到關于該電子器件全面的熱特性。本系統采用的是“運行中”的即時測量的方法，結合其精密的硬件，可以快速精確捕捉到高訊噪比的溫度瞬態曲線。
LED暫能熱阻量測系統
● 本系統由工研院研發完成，并獲得2014 百大科技研發獎（R&D 100 Awards）
● 只需3分鐘，即可量測出完整的LED 封裝元件熱結構
● 與T3ster 量測數據*，并可使用于多種封裝LED
● 彈性的架治具，重現性比T3ster 更好
技術規格
參考規格
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